Zur Überprüfung der Qualität von produzierten Leistungshalbleitern oder Dioden sowie zur vollautomatischen Durchführung von komplexen Messaufgaben werden Messautomaten bzw. Testsysteme eingesetzt. Wir bieten Ihnen eine Vielzahl an unterschiedlichsten Testsystemen an, mit denen elektrische Module, Komponenten und Maschinen auf Stromfluss und Spannung getestet und gemessen werden können. Zu den Leistungen gehören dabei sowohl die individuelle Entwicklung von Systemen ganz nach Ihren Anforderungen als auch die weltweite Inbetriebnahme der fertigen Anlagen vor Ort.
Ob große automatisierte Testsysteme, die in der Produktionsstraße eingebunden sind oder kleine Systeme für Kleinserien oder Kleinteile für den Schreibtisch. Je nach Größe oder Funktionsbedarf erstellen wir individuelle Testsysteme auch mit mechanischer Kennzeichnung, Lasermarkierung oder mit Inkjet-Markierung.
Was wird getestet?
Eckdaten:
Je umfangreicher und komplexer die Produktionsanlage, desto anspruchsvoller sind die Anforderungen an heutige Testsysteme. Wir bieten Ihnen Testsysteme für verschiedene Einsatzbereiche, immer mit der Option der individuellen Anpassungsmöglichkeit.
Messung aller Dioden-Parameter mit Strom:
Handhabungssystem
Messung aller Parameter der Power-Dioden in einem Halbbrücken/Gleichrichter
Handhabungssystem - Vollautomatische oder manuelle Stationen
Messung aller Parameter der FET´s auf den Modulen (bis zu 1000A)
RBSOA / SCSOA Prüfung Je nach Qualitätsstandard bei der Herstellung verschiedener IGBT-und MOSFET-Modultypen wird ein RBSOA-und SCSOA-Test durchgeführt. Die Systempalette reicht von Stand-Alone-Laborsystemen mit manueller Fütterung bis hin zur Bewertung von DUTs während des Entwicklungsprozesses bis hin zu voll automatisierten Schichtbetrieb-Produktionslinien. Für RBSOA-und SCSOA-Tests ist es wichtig, dass der Prüfling während des Schaltens einen echten Belastungstest durchläuft und der Prüfling nicht nur ein-und ausgeschaltet wird. Um einen echten Belastungstest zu erreichen, müssen mehrere Kriterien erfüllt sein, wie
Vorteile:
Für den High Temperature Reverse Bias Tester haben wir ein sehr kompaktes Testsystem entwickelt. Das System ist in der Lage, 4x DUTs mit bis zu +/-6500 V und 200 °C zu testen. Das System besteht aus:
Labor-Test-System 300A zur Messung aller Parameter eines FET oder FET-Moduls
Inklusive manueller Kontaktierstation.
Für eine kontinuierliche Qualitätskontrolle bei der Herstellung verschiedener elektronischer Halbleiter werden HTOL-Tests durchgeführt. Die Prüflinge werden für eine bestimmte Zeit (100h -1000h), meist unter hoher Temperatur in einer Heizkammer, getestet. Verschiedene JEDEC-Standards definieren den individuellen Test für jedes DUT, der von der Hardware und Software interpretiert wird. Der gesamte Test wird von Analysetools interpretiert. Das System besteht aus den folgenden Komponenten:
Für eine kontinuierliche Qualitätskontrolle während der Herstellung von verschiedenen elektronischen Halbleiter Temperaturwechseltests durchgeführt werden,.Bei diesem Test werden elektronische Halbleiter durch Stromimpulse mit einer bestimmten Frequenz aufgeheizt.In diesem Beispiel werden 16 Gleichrichterdioden gleichzeitig mit einem Strom von bis zu 200A gepulst.
Die Durchlassspannung wird kontinuierlich gemessen, bis die Spannung unter einen bestimmten Wert abfällt, der für die Temperatur innerhalb der Gleichrichterdiode steht. Danach wird die Gleichrichterdiode auf einen bestimmten Durchlassspannungsstartwert abgekühlt und wiederholt den Test.Diese Langzeittests laufen mehr als 500 Stunden, was ein sehr stabiles System unerlässlich macht.In diesem Beispiel gibt es 16 eindeutige Testpositionen, die unabhängig voneinander laufen können. Vorteile:
Aktuelle Zyklustests bis 300 A
Die Prüflinge sind auf wassergekühlten Kühlkörper montiert. Der Prüfling wird mit hohen Stromimpulsen bis zu einer bestimmten Temperatur angetrieben. Wird diese Temperatur erreicht, wählt das Schaltfeld den nächsten Prüfling aus und heizt ihn auf. Nach einem Zyklus wird die Temperatur des ersten Prüflings gemessen. Falls die Temperatur noch zu hoch ist, wird der Prüfling übersprungen. Der Kühler und die Kühlkörper prüfen das, sodass nach einem Zyklus das erste Teil fast wieder auf seine Starttemperatur gesunken ist und neu gemessen werden kann.
Kleinserienfertigung ZTH Test-System 150 A und alle Parameter eines FET oder FET-Moduls
Inklusive manueller Kontaktierstation.
Alle Sollwert- und Messmodulfunktionen basieren auf dem Messmodul. Zur Kalibrierung wird dieses Modul einfach mit einem geeigneten Instrument gemessen, das Ergebnis an den Tester gesendet und im nichtflüchtigen Speicher gespeichert. Bei der Kalibrierung sind insbesondere keine Potentiometer beteiligt.
Wir bieten ein Werkzeug zur automatischen Kalibrierung, basierend auf einem kalibrierten Digitalmultimeter und zusätzlicher Schaltung, um alle Messbereiche abzudecken. Dieses Tool ermöglicht es insbesondere unseren internationalen Kunden, selbst zu kalibrieren oder die DC-Spezifikation des Testers regelmäßig zu überprüfen. Das System erstellt automatisch einen Kalibrierbericht mit dem Vergleich von Tester- und Multimeter-Ergebnissen.
Wir verfügen über Jahrzehnte lange Erfahrung im Prüfen von Leistungshalbleitern.
Da alle Bestandteile von MRS Systemen modular aufgebaut sind, können individuelle Systeme flexibel und ganz nach Ihren Anforderungen erstellt werden.
Langjährige Zusammenarbeit mit weltweiten namenhaften Kunden aus den verschiedensten Branchen.
Moderne Fertigungstechnologien sowie anerkannte Qualitätsstandards – Wir entwickeln und produzieren in unserer Produktion in Deutschland.
Unsere MRS Prüfsysteme entsprechen dem CE-Standard und werden gemäß der Spezifikation der Maschinenrichtlinie 2006 / 42 / EG gebaut: DIN EN 60204, DIN EN ISO 12100, DIN EN ISO 13849.
Dann kontaktieren Sie uns gerne.